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Measurement Techniques For Radio Frequency Nanoelectronics

de Pavel Kabos e T. Mitch Wallis
idioma: inglês
Editor: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, setembro de 2017 ‧
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Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.

Measurement Techniques For Radio Frequency Nanoelectronics

de Pavel Kabos e T. Mitch Wallis

Propriedade Descrição
ISBN: 9781107120686
Editor: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
Data de Lançamento: setembro de 2017
Idioma: Inglês
Dimensões: 174 x 247 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 328
Tipo de produto: Livro
Coleção: The Cambridge Rf And Microwave Engineering Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781107120686

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