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Lifetime Spectroscopy

A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications

de Stefan Rein
idioma: inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG, junho de 2005 ‧
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Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

Lifetime Spectroscopy

A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications

de Stefan Rein

Propriedade Descrição
ISBN: 9783540253037
Editor: SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG
Data de Lançamento: junho de 2005
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 33 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 492
Tipo de produto: Livro
Coleção: Springer Series In Materials Science
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
EAN: 9783540253037

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