Istfa 2017 Proceedings From The 43rd International Symposium For Testing And Failure Analysis

de Asm International
idioma: inglês
Editor: A S M International, Janeiro de 2018 ‧
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The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.

Istfa 2017 Proceedings From The 43rd International Symposium For Testing And Failure Analysis

de Asm International

Propriedade Descrição
ISBN: 9781627081504
Editor: A S M International
Data de Lançamento: Janeiro de 2018
Idioma: Inglês
Dimensões: 152 x 229 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 660
Tipo de produto: Livro
Coleção: Asm Handbook
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781627081504

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