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Istfa 2017 Proceedings From The 43rd International Symposium For Testing And Failure Analysis
Istfa 2017 Proceedings From The 43rd International Symposium For Testing And Failure Analysis
idioma: inglês
Editor:
A S M International, Janeiro de 2018 ‧
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SINOPSE
The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9781627081504 |
| Editor: | A S M International |
| Data de Lançamento: | Janeiro de 2018 |
| Idioma: | Inglês |
| Dimensões: | 152 x 229 x 20 mm |
| Encadernação: | Capa mole |
| Páginas: | 660 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Coleção: | Asm Handbook |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Outros |
| EAN: | 9781627081504 |
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