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Istfa 2015 Proceedings From The 41st International Symposium For Testing And Failure Analysis
idioma: inglês
Editor:
A S M International, Janeiro de 2016 ‧
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SINOPSE
Features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers address the symposium's theme, Follow the Data!
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9781627081023 |
| Editor: | A S M International |
| Data de Lançamento: | Janeiro de 2016 |
| Idioma: | Inglês |
| Dimensões: | 152 x 229 x 20 mm |
| Encadernação: | Capa mole |
| Páginas: | 500 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Coleção: | Studies In Print Culture And History Of The Book |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Engenharia Geral
|
| EAN: | 9781627081023 |
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