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Hf-Based High-K Dielectrics
Process Development, Performance Characterization, And Reliability
idioma: inglês
Editor:
MORGAN & CLAYPOOL PUBLISHERS, outubro de 2005 ‧
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SINOPSE
Chip density and performance have been driven by scaling of semiconductor devices. This book tells how SiO2 gate dielectrics have reached its minimum thickness due to direct tunneling current and reliability concerns. Therefore, high-k dielectrics attracted more attention from industries as the replacement of conventional SiO2 gate dielectrics.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9781598290042 |
| Editor: | MORGAN & CLAYPOOL PUBLISHERS |
| Data de Lançamento: | outubro de 2005 |
| Idioma: | Inglês |
| Encadernação: | Capa mole |
| Páginas: | 92 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Eletricidade e Energia
|
| EAN: | 9781598290042 |