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Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics

idioma: inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG, agosto de 2020 ‧
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The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics

Propriedade Descrição
ISBN: 9783030156145
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Data de Lançamento: agosto de 2020
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 408
Tipo de produto: Livro
Coleção: Nanoscience And Technology
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Química
EAN: 9783030156145

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