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Digital Holography For Mems And Microsystem Metrology

de Anand (Nanyang Technological University, Singapore) Asundi
idioma: inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC, julho de 2011 ‧
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By taking a practical approach to the industrial inspection of digital holography, Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology offers a description of the use of digital holography and its growing applications for MEMS characterization, residual stress measurement, design and evaluation and device testing and inspection.

Digital Holography For Mems And Microsystem Metrology

de Anand (Nanyang Technological University, Singapore) Asundi

Propriedade Descrição
ISBN: 9780470978696
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: julho de 2011
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 228
Tipo de produto: Livro
Coleção: The Wiley Microsystem And Nanotechnology Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9780470978696

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