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Design For Testability, Debug And Reliability

Next Generation Measures Using Formal Techniques

de Sebastian Huhn e Rolf Drechsler
idioma: inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG, abril de 2021 ‧
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This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

Design For Testability, Debug And Reliability

Next Generation Measures Using Formal Techniques

de Sebastian Huhn e Rolf Drechsler

Propriedade Descrição
ISBN: 9783030692087
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Data de Lançamento: abril de 2021
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 164
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9783030692087