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Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

Principles And Applications

de Christine M. Mahoney
idioma: inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC, junho de 2013 ‧
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This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors.

Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry

Principles And Applications

de Christine M. Mahoney

Propriedade Descrição
ISBN: 9780470886052
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: junho de 2013
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 380
Tipo de produto: Livro
Coleção: Wiley Series On Mass Spectrometry
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Química
EAN: 9780470886052