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idioma: inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC., junho de 2014 ‧
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This book covers all facets of atom probe microscopyâ€"including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.

Atom Probe Microscopy

de Baptiste Gault, Simon P. Ringer, Julie M. Cairney e Michael P. Moody

Propriedade Descrição
ISBN: 9781489989390
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC.
Data de Lançamento: junho de 2014
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 396
Tipo de produto: Livro
Coleção: Springer Series In Materials Science
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Química
EAN: 9781489989390

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