Advances In Imaging And Electron Physics

Optics Of Charged Particle Analyzers

de Peter W. Hawkes
idioma: inglês
Editor: ELSEVIER SCIENCE PUBLISHING CO INC, setembro de 2010 ‧
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Features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in these domains.

Advances In Imaging And Electron Physics

Optics Of Charged Particle Analyzers

de Peter W. Hawkes

Propriedade Descrição
ISBN: 9780123813145
Editor: ELSEVIER SCIENCE PUBLISHING CO INC
Data de Lançamento: setembro de 2010
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 248
Tipo de produto: Livro
Coleção: Civil War America
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9780123813145

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