Advances In Imaging And Electron Physics

Optics Of Charged Particle Analyzers

de Peter W. Hawkes
idioma: inglês
Editor: ELSEVIER SCIENCE PUBLISHING CO INC, maio de 2010 ‧
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Includes articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in different domains.

Advances In Imaging And Electron Physics

Optics Of Charged Particle Analyzers

de Peter W. Hawkes

Propriedade Descrição
ISBN: 9780123813183
Editor: ELSEVIER SCIENCE PUBLISHING CO INC
Data de Lançamento: maio de 2010
Idioma: Inglês
Dimensões: 152 x 229 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 304
Tipo de produto: Livro
Coleção: Advances In Agronomy
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
EAN: 9780123813183

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