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Theoretical Concepts Of X-Ray Nanoscale Analysis eBook
Theory And Applications
idioma: inglês
Editor:
Springer Berlin Heidelberg, setembro de 2013 ‧
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DISPONIBILIDADE IMEDIATA
Ebook para ADE
SINOPSE
Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9783642381775 |
| Editor: | Springer Berlin Heidelberg |
| Data de Lançamento: | setembro de 2013 |
| Idioma: | Inglês |
| Tipo de produto: | eBook |
| Formato e Compatibilidade: | PDF para ADE |
| Coleção: | Springer Series In Materials Science |
| Classificação Temática: |
eBooks em Inglês
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Outros
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| EAN: | 9783642381775 |
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