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Synthetic Polymeric Membranes eBook

Characterization By Atomic Force Microscopy

de Takeshi Matsuura, C. Y. Feng e K. C. Khulbe
idioma: inglês
Editor: Springer Berlin Heidelberg, dezembro de 2007 ‧
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Ebook para ADE
Atomic Force Microscope (AFM) is becoming a very important tool for the characterization of synthetic polymeric membranes. This book focuses on the method developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an AFM. It is suitable for academic researchers who are investigating synthetic membranes.

Synthetic Polymeric Membranes

Characterization By Atomic Force Microscopy

de Takeshi Matsuura, C. Y. Feng e K. C. Khulbe

Propriedade Descrição
ISBN: 9783540739944
Editor: Springer Berlin Heidelberg
Data de Lançamento: dezembro de 2007
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Springer Laboratory
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Ciências Sociais e Humanas > História e Metodologia Científica
EAN: 9783540739944

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