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Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs eBook

de Ruijing Shen, Hao Yu e Sheldon X.-D. Tan
idioma: inglês
Editor: SPRINGER NEW YORK, julho de 2014 ‧
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Ebook para ADE
This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs

de Ruijing Shen, Hao Yu e Sheldon X.-D. Tan

Propriedade Descrição
ISBN: 9781461407881
Editor: SPRINGER NEW YORK
Data de Lançamento: julho de 2014
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Engineering
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9781461407881