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Scanning Probe Microscopy eBook

Atomic Force Microscopy And Scanning Tunneling Microscopy

de Bert Voigtlander
idioma: inglês
Editor: Springer Berlin Heidelberg, fevereiro de 2015 ‧
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Ebook para ADE
Scanning Probe Microscopy

Scanning Probe Microscopy

Atomic Force Microscopy And Scanning Tunneling Microscopy

de Bert Voigtlander

Propriedade Descrição
ISBN: 9783662452400
Editor: Springer Berlin Heidelberg
Data de Lançamento: fevereiro de 2015
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Coleção: Nanoscience And Technology
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
EAN: 9783662452400

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