Capa do artigo Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies eBook

de Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Iii Stewart E. Rauch, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sullivan e Jordi Sune
idioma: inglês
Editor: WILEY, outubro de 2009 ‧
217,23€
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Ebook para ADE
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.

Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies

de Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Iii Stewart E. Rauch, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sullivan e Jordi Sune

Propriedade Descrição
ISBN: 9780470455258
Editor: WILEY
Data de Lançamento: outubro de 2009
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Ieee Press Series On Microelectronic Systems
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9780470455258

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