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Interfacial Compatibility In Microelectronics eBook

Moving Away From The Trial And Error Approach

de Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Toni T. Mattila, Markus Turunen, Jorma Kivilahti e Mervi Paulasto-Krockel
idioma: inglês
Editor: SPRINGER LONDON, Janeiro de 2012 ‧
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Ebook para ADE
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

Interfacial Compatibility In Microelectronics

Moving Away From The Trial And Error Approach

de Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Toni T. Mattila, Markus Turunen, Jorma Kivilahti e Mervi Paulasto-Krockel

Propriedade Descrição
ISBN: 9781447124702
Editor: SPRINGER LONDON
Data de Lançamento: Janeiro de 2012
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Microsystems
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9781447124702