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Fundamentals Of Nanoscale Film Analysis eBook

de James W. Mayer, L.C. Feldman e Terry L. Alford
idioma: inglês
Editor: SPRINGER US, abril de 2007 ‧
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Ebook para ADE
Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. This work concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in depth. It also presents a variety of analytical and scanning probe microscopy techniques.

Fundamentals Of Nanoscale Film Analysis

de James W. Mayer, L.C. Feldman e Terry L. Alford

Propriedade Descrição
ISBN: 9780387292618
Editor: SPRINGER US
Data de Lançamento: abril de 2007
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Química
EAN: 9780387292618