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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations eBook

Part I: Foundations

de Reifenberger Ronald G Reifenberger
idioma: inglês
Editor: WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING COMPANY, setembro de 2015 ‧
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Ebook para ADE
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Part I: Foundations

de Reifenberger Ronald G Reifenberger

Propriedade Descrição
ISBN: 9789814630375
Editor: WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING COMPANY
Data de Lançamento: setembro de 2015
Idioma: Inglês
Páginas: 340
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade:
Coleção: Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes Series
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9789814630375
Acessibilidade: Ver características de acessibilidade indicadas pelo editor