Capa do artigo Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics
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Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics eBook

idioma: inglês
Editor: Springer International Publishing, agosto de 2019 ‧
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Ebook para ADE
The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics

Propriedade Descrição
ISBN: 9783030156121
Editor: Springer International Publishing
Data de Lançamento: agosto de 2019
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Coleção: Nanoscience And Technology
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
eBooks em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Química
EAN: 9783030156121
Acessibilidade: Ver características de acessibilidade indicadas pelo editor

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