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Cmos Plasma And Process Damage eBook

de Kirk Prall
Livro eBook
idioma: inglês
Editor: Springer Nature Switzerland, maio de 2025 ‧
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Ebook para ADE
Readers will learn how plasma and process damage results from the high-energy processes that are used in chip manufacturing, causing harm to the chips, functional failure and reliability problems.

Cmos Plasma And Process Damage

de Kirk Prall

Propriedade Descrição
ISBN: 9783031890291
Editor: Springer Nature Switzerland
Data de Lançamento: maio de 2025
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Coleção: Engineering
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
EAN: 9783031890291