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Analog Ic Reliability In Nanometer Cmos eBook

de Elie Maricau e Georges Gielen
idioma: inglês
Editor: SPRINGER NEW YORK, Janeiro de 2013 ‧
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Ebook para ADE
This book covers modeling, simulation and analysis of analog circuit aging, nanometer CMOS physical effects resulting in unreliability, transistor aging compact models for circuit simulation, methods for efficient circuit reliability simulation and more.

Analog Ic Reliability In Nanometer Cmos

de Elie Maricau e Georges Gielen

Propriedade Descrição
ISBN: 9781461461630
Editor: SPRINGER NEW YORK
Data de Lançamento: Janeiro de 2013
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Analog Circuits And Signal Processing
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9781461461630

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