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Advanced Test Methods For Srams eBook

Effective Solutions For Dynamic Fault Detection In Nanoscaled Technologies

de Patrick Girard, Alberto Bosio, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch e Luigi Dilillo
idioma: inglês
Editor: SPRINGER US, outubro de 2009 ‧
118,59€
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Ebook para ADE
Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.

Advanced Test Methods For Srams

Effective Solutions For Dynamic Fault Detection In Nanoscaled Technologies

de Patrick Girard, Alberto Bosio, Arnaud Virazel, Serge Pravossoudovitch e Luigi Dilillo

Propriedade Descrição
ISBN: 9781441909381
Editor: SPRINGER US
Data de Lançamento: outubro de 2009
Idioma: Inglês
Páginas: 171
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade:
Coleção: Engineering
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
eBooks em Inglês > Informática > CAD
EAN: 9781441909381
Acessibilidade: Ver características de acessibilidade indicadas pelo editor