Thermally Activated Mechanisms In Crystal Plasticity

idioma: inglês
Editor: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, setembro de 2003 ‧
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Contains data from a range of techniques, including synchrotron radiation X-ray topography that provide safer and surer methods of identifying deformation mechanisms. This book also informs the direction of research in intermediate and high temperature processes by providing original treatment of dislocation climb.

Thermally Activated Mechanisms In Crystal Plasticity

Propriedade Descrição
ISBN: 9780080427034
Editor: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY
Data de Lançamento: setembro de 2003
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 452
Tipo de produto: Livro
Coleção: Pergamon Materials Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Mecânica
EAN: 9780080427034

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