Single Electron Spin Measurements In Submicron Si Mos-Fets Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance

de Ming Xiao
idioma: inglês
Editor: VDM Verlag, dezembro de 2008 ‧
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Single Electron Spin Measurements In Submicron Si Mos-Fets Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance

de Ming Xiao

Propriedade Descrição
ISBN: 9783836493758
Editor: VDM Verlag
Data de Lançamento: dezembro de 2008
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa mole
Páginas: 124
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
EAN: 9783836493758