Residual Stress

Measurement By Diffraction And Interpretation

de Ismail Cevdet Noyan e Jerome B. Cohen
idioma: inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC., julho de 2012 ‧
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Residual Stress

Measurement By Diffraction And Interpretation

de Ismail Cevdet Noyan e Jerome B. Cohen

Propriedade Descrição
ISBN: 9781461395713
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC.
Data de Lançamento: julho de 2012
Idioma: Inglês
Dimensões: 170 x 244 x 15 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 276
Tipo de produto: Livro
Coleção: Materials Research And Engineering
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9781461395713

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