Next Generation Halt And Hass

Robust Design Of Electronics And Systems

de John J. Paschkewitz e Kirk A. Gray
idioma: inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC, maio de 2016 ‧
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Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.

Next Generation Halt And Hass

Robust Design Of Electronics And Systems

de John J. Paschkewitz e Kirk A. Gray

Propriedade Descrição
ISBN: 9781118700235
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: maio de 2016
Idioma: Inglês
Dimensões: 170 x 244 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 296
Tipo de produto: Livro
Coleção: Wiley Software Patterns Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781118700235