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Mismatch And Noise In Modern Ic Processes
idioma: inglês
Editor:
MORGAN & CLAYPOOL PUBLISHERS, março de 2009 ‧
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SINOPSE
Component variability, mismatch, and various noise effects are major contributors to design limitations in most modern IC processes. This book examines these related effects and how they affect the building block circuits of modern integrated circuits.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9781598299410 |
| Editor: | MORGAN & CLAYPOOL PUBLISHERS |
| Data de Lançamento: | março de 2009 |
| Idioma: | Inglês |
| Encadernação: | Capa mole |
| Páginas: | 140 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Eletricidade e Energia
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| EAN: | 9781598299410 |
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