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Materials Science In Microelectronics Ii
The Effects Of Structure On Properties In Thin Films
idioma: inglês
Editor:
ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, novembro de 2005 ‧
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SINOPSE
Looks at the importance of thin films to microelectronic development. This title examines the effect of structure on: electrical properties; magnetic properties; optical properties; mechanical properties; mass transport properties; interface and junction properties; defects and properties.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9780080446394 |
| Editor: | ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY |
| Data de Lançamento: | novembro de 2005 |
| Idioma: | Inglês |
| Encadernação: | Capa dura |
| Páginas: | 228 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Coleção: | Ipv-Ifac Proceedings Volume |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Eletricidade e Energia
|
| EAN: | 9780080446394 |
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