Key Concepts Of Scanning Electron Microscopy

idioma: inglês
Editor: NY Research Press, Janeiro de 2015 ‧
ESGOTADO OU NÃO DISPONÍVEL
Venda o seu livro

Key Concepts Of Scanning Electron Microscopy

Propriedade Descrição
ISBN: 9781632383068
Editor: NY Research Press
Data de Lançamento: Janeiro de 2015
Idioma: Inglês
Dimensões: 152 x 229 x 16 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 256
Tipo de produto: Livro
Coleção: Alex And James Eco-Adventures In Nepal
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Sociais e Humanas > História e Metodologia Científica
EAN: 9781632383068

LIVROS DA MESMA COLEÇÃO