Fundamentos de Metrologia
Científica e Industrial
de Armando Albertazzi G. Jr.
idioma: Português do Brasil, Português
Sobre
o Livro
Sinopse
Este livro foi concebido como material de apoio para o ensino da metrologia, para atender às necessidades dos cursos de graduação e pós-graduação em engenharia, ciências exatas e afins. Tornou-se também um material de apoio para cursos de educação continuada e para pessoas autodidatas. Resultou do amadurecimento e da evolução das notas de aula compiladas ao longo de quase 20 anos de atividades docentes dos autores. A apresentação dos tópicos segue uma seqüência progressiva e intuitiva, desenhada para favorecer a compreensão do assunto e conduzir o leitor à aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.
Detalhes
do Produto
Fundamentos de Metrologia
ISBN
9788520421161
Editor:
Editora Manole
Idioma:
Português do Brasil, Português
Dimensões:
156 x 224 x 23 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
407
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
Livros em Português
> Ciências Exatas e Naturais
> Matemática