Characterization In Compound Semiconductor Processing

de Yale E. Strausser e Gary E. Mcguire
idioma: inglês
Editor: Momentum Press, fevereiro de 2010 ‧
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Reviews the common classes of compound semiconductors, their physical, optical and electrical properties and the various types of methods used for characterizing them when analyzing for defects and application problems. This book features: characterization of III-V Thin Films for Electronic and Optical applications.

Characterization In Compound Semiconductor Processing

de Yale E. Strausser e Gary E. Mcguire

Propriedade Descrição
ISBN: 9781606500415
Editor: Momentum Press
Data de Lançamento: fevereiro de 2010
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 236 x 15 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 212
Tipo de produto: Livro
Coleção: Materials Characterization Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Mecânica
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781606500415