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Atomic Force Microscopy In Process Engineering
An Introduction To Afm For Improved Processes And Products
idioma: inglês
Editor:
ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, julho de 2009 ‧
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SINOPSE
Atomic force microscopy (AFM) is a surface imaging technique that can be applied at sub-nanometre resolution in liquids and gases. This book aims to bring together both the basic theory and proven process engineering practice of AFM. It offers an approach to ensure that it is also directly applicable to practical process engineering problems.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9781856175173 |
| Editor: | ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY |
| Data de Lançamento: | julho de 2009 |
| Idioma: | Inglês |
| Encadernação: | Capa dura |
| Páginas: | 304 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Engenharia Geral
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| EAN: | 9781856175173 |