Capa do artigo Atom Probe Field Ion Microscopy

Atom Probe Field Ion Microscopy

de M. G. Hetherington e A. (Department Of Materials, Department Of Materials, University Of Oxford) Cerezo
idioma: inglês
Editor: Oxford University Press, setembro de 1996 ‧
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A definitive account of the theory, practice, and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. New applications for this technique are rapidly emerging and graduate level material and surface scientists will enjoy this account of the state-of-the-art.

Atom Probe Field Ion Microscopy

de M. G. Hetherington e A. (Department Of Materials, Department Of Materials, University Of Oxford) Cerezo

Propriedade Descrição
ISBN: 9780198513872
Editor: Oxford University Press
Data de Lançamento: setembro de 1996
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 520
Tipo de produto: Livro
Coleção: Monographs On The Physics And Chemistry Of Materials
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Sociais e Humanas > História e Metodologia Científica
EAN: 9780198513872

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